講演 時刻 | 講演 番号 | 講演題目/発表者 | キーワード | 分類 番号 | 受理 番号 |
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シンポジウム <エレクトロニクス材料とプロセス> | |||||
(13:00~15:00) (座長 石井 正人・老田 尚久) | |||||
H213 | 銀配線、銅配線の配線間短絡までの時間 | ion migration short circuit Ag, Cu wiring | S-5 | 508 | |
H214 | 有機基板を用いた微量イオンセンシングに関する基礎検討 | self-assembling monolayer sensor reproducibility | S-5 | 447 | |
H215 | スパッタイオンプレーティング法を用いたCuシード膜の作製と評価 | Cu Seed Electoro-Migration Through Silicon Via | S-5 | 43 | |
H216 | Si貫通電極(TSV)の高速Cuめっき | Copper TSV Electrodeposition | S-5 | 42 | |
H217 | フィルドビアめっきにおけるジアリルアミン系添加剤の効果 | Copper Electrodeposition Via-filling | S-5 | 365 | |
H218 | 高アスペクト比キャビティ内の流動解析 | high aspect ratio bump numerical analysis | S-5 | 671 |