講演 時刻 | 講演 番号 | 講演題目/発表者 | キーワード | 分類 番号 | 受理 番号 |
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部会セッション SE-10. <エレクトロニクス材料とプロセス> | |||||
(10:00〜12:00) (座長 所 和彦・金子 豊) | |||||
N104 | 低線膨張銅めっき | Copper Electrodeposition Thermal Expansion Coefficient | SE-10 | 17 | |
N105 | マイクロコンタクトプリント法によるパターンめっき用核剤インクの印刷 | printed electronics Electrodeposition micro-contact printing | SE-10 | 217 | |
N106 | 電解銅箔製造プロセスにおける電析シミュレーション (古河インフォメーションテクノロジー) (部)○石丸 泰之・ | electrodeposition simulation electrolytic copper foil | SE-10 | 736 | |
N107 | TSV高速めっき充填技術 | high speed TSV filling 3D packaging electrolyte optimization | SE-10 | 402 | |
N108 | モンテカルロシミュレーションを用いたシリコン貫通電極(TSV)埋め込みのモデリング | Monte Carlo Simulation Through-silicon via Additives | SE-10 | 340 | |
N109 | Cl-とSPSの共存下における銅ダマシン(銅めっき)プロセスの反応速度論および一価銅濃度の数値解析 | TSV filling Cuprous Copper plating kinetic | SE-10 | 419 | |
(13:00〜14:20) (座長 近藤 和夫) | |||||
N113 | [招待講演] 電子回路のためのビアとスルーホール埋め込み銅めっき | Copper Via additive | SE-10 | 31 | |
N115 | [招待講演] CCS(Cognitive Computer System)時代を切り開らくデバイス技術の動向 | デバイス CCS 半導体 | SE-10 | 107 | |
(14:40〜16:00) (座長 武野 泰彦・折田 伸昭) | |||||
N118 | [招待講演] アルバックのTSVソリューション | TSV Etcher Plasma | SE-10 | 23 | |
N120 | [招待講演] 電気銅めっきによるビアフィリングと添加剤効果:動的モンテカルロシミュレーションによるアプローチ | Monte Calro Copper electrodeposition Additive | SE-10 | 25 |